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本文標題："偏光顯微鏡應用于觀察金屬的拋光樣品晶粒襯比"
新聞來源：未知 發布時間：2015-4-22 14:03:15 本站主頁地址：http://m.027toilet.cn
偏光顯微鏡應用于觀察金屬的拋光樣品晶粒襯比
如配制適當，則各向異性金屬的拋光樣品將對偏振光起
“反應”，在正交偏振片下將觀察到一種晶粒襯比效應，這是
說，晶粒的亮度將隨晶體取向而變遷，但如樣品屬立方晶系，
則在正交偏振片下將只出現一片均勻的黑暗，除非由于侵蝕的
結果而產生了人工各向異性，就是說，由于侵蝕的結果而產生
了各向異性的表面薄膜或輪廓清晰的侵蝕斑，一個侵蝕斑將對
斜入射的光線發生反射，反射光將是橢圓偏振的，但是，這樣
一支光線，檢偏振器在任何位置也不可能完全消光，它將產生
一背底照明，因而掩蓋了晶粒襯比效應。
很明顯，偏振光主要用途之一是辨別不同取向的面積，因
為這些面積在正交偏振片下面是以不同強度出現的，由此可見，
這一技術對研究形變的效應，特別是從優取向的產生將非常有
用，但在豎直施照器與檢偏振器之間再插入一染色片，則每一
晶粒可以靠一種特征的顏色來識別，當樣品轉動時顏色將隨之
改變，這對于在再結晶研究中識別從優取向的強度，是非常有
用的，要相圖的測定中，用偏振光易于在多相合金中識別不同
的相。
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