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本文標題："透射電鏡的制樣與光學顯微鏡的制樣是不同的"
新聞來源：未知 發布時間：2014-5-10 14:20:46 本站主頁地址：http://m.027toilet.cn
透射電鏡的制樣與光學顯微鏡的制樣是不同的
透射電鏡的制樣與光學顯微鏡研究中的制樣是不同的。在透射
電鏡研究中，要密切注視在壓碎、研磨或拋光等加工過程中可能產
生的缺陷或損傷。因此，在制備透射電鏡樣品時，一定要非常小心。
對象云母這一類的層狀結構硅酸鹽礦物，就可用它們的碎片或
解理片來進行研究。做時只要用膠帶一貼，就可把礦物拉下一薄層
來，而膠帶可用合適的溶劑溶掉如果礦物不具有明顯的解理，則可
先制成薄片，然后再用化學溶解法或用離子轟擊法來減薄。化學溶
解法的優點，不會給樣品造成損傷，故制出的無缺陷樣品，適合作
透射電鏡研究。
大多數礦物和巖石都能用離子減薄技術來作透射電鏡或掃描透
射電鏡研究。Ti ghe對減薄的方法和設備已有過闡述。如果要對地
質樣品的薄片作減薄時，就應使用象萊克賽德膠或加拿大樹膠等粘
結物質，這樣減薄后的樣品箔，容易揭下來并粘到透射電鏡研究用
的銅網上去，同時要用照相的方法對離子減薄區域進行仔細監測，
以便使透射電鏡的研究結果能與光學研究結果進行對比。
由于不同的礦物在離子減薄時速度不同，就要求制樣人有熟練
的技藝和經驗，同時還要有足夠的耐心。
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